Ejecutivo asesinado en Nueva York: huellas y casquillos coinciden con arma del sospechoso
01.01.1970
Las impresiones dactilares y los casquillos de bala encontrados en la escena del asesinato de un alto ejecutivo en Nueva York la semana pasada coinciden con las huellas y con el arma encontrada al hombre acusado del crimen, informó la policía, según medios locales.